X熒光光譜儀是元素分析的主要儀器之一，在元素分析中具有制樣簡(jiǎn)單、無(wú)損、快速、不破壞樣品、可以多元素同時(shí)分析等優(yōu)點(diǎn)。目前市場(chǎng)上使用比較多的兩種型號(hào)是能量色散型和波長(zhǎng)色散型的儀器，但這種傳統(tǒng)的儀器有時(shí)候靈敏度不夠高，無(wú)法滿足微量或痕量應(yīng)用領(lǐng)域的檢測(cè)需求，因此這制約了它的發(fā)展。

 

　　X熒光光譜儀采用兩種分光技術(shù)，一是通過(guò)分光晶體對(duì)不同波長(zhǎng)的X-熒光進(jìn)行衍射而達(dá)到分光目的，然后用探測(cè)器探測(cè)不同波長(zhǎng)處X-熒光強(qiáng)度，這項(xiàng)技術(shù)稱為波長(zhǎng)色散光譜。另一項(xiàng)技術(shù)是首先使用探測(cè)器接收所有不同能量的X-熒光，通過(guò)探測(cè)器轉(zhuǎn)變成電脈沖信號(hào)，經(jīng)前置放大后，用多道脈沖高度分析器進(jìn)行信號(hào)處理，得到不同能量X-熒光的強(qiáng)度分布譜圖，即能量色散光譜，簡(jiǎn)稱X-熒光能譜。

 

　　X熒光光譜儀較常見(jiàn)的故障，一般發(fā)生在開(kāi)機(jī)時(shí)，偶爾也發(fā)生在儀器運(yùn)行中。故障的產(chǎn)生原因可以從三個(gè)方面去分析：1、X射線防護(hù)系統(tǒng);2、內(nèi)部水循環(huán)冷卻系統(tǒng);3、高壓發(fā)生器及X射線光管。今天咱們來(lái)分析下從X射線防護(hù)系統(tǒng)來(lái)看產(chǎn)生故障的原因：

 

　　為了防止X射線泄漏，高壓發(fā)生器只有在射線防護(hù)系統(tǒng)正常的情況下才能啟動(dòng)。射線防護(hù)系統(tǒng)正常與否，主要檢查以下二部分：

 

　　1、面板的位置是否正常。是一個(gè)封閉系統(tǒng)，面板是外層的射線防護(hù)裝置，如果有一塊面板不到位，儀器就有射線泄漏的可能。因此，每塊面板上都有位置接觸傳感器，面板沒(méi)有合上，高壓開(kāi)不起來(lái)。

 

　　2、X射線的警示標(biāo)志是否正常。國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，必須安裝紅色警告信號(hào)燈并與相應(yīng)的開(kāi)關(guān)聯(lián)動(dòng)，因此如果信號(hào)燈失靈，高壓也開(kāi)不起來(lái)。

 

　　有一種簡(jiǎn)單的方法可以判斷高壓不能啟動(dòng)是否是由射線防護(hù)系統(tǒng)引起，即將儀器的狀態(tài)設(shè)定為維修狀態(tài)，屏蔽射線防護(hù)系統(tǒng)，如果這時(shí)高壓可以開(kāi)起來(lái)，就可以確定故障是由射線防護(hù)系統(tǒng)的問(wèn)題引起的。