鍍層厚度是鍍層檢測(cè)的重要指標(biāo)之一,準(zhǔn)確測(cè)量鍍層的厚度對(duì)保證鍍層性能和節(jié)能節(jié)材有重要的意義.

X 射線應(yīng)用非常廣泛。 除穿透檢測(cè)外，X射線熒光（XRF）的特性還可用于元素分析和涂層厚度分析。 厚度計(jì)算主要是根據(jù)基材和涂層材料之間的信號(hào)強(qiáng)度關(guān)系。

薄膜厚度分析的方法很多，如X射線測(cè)厚、渦流、超聲波等。 這三個(gè)原則不同，使用的限度和可測(cè)量的范圍也不同。

X射線熒光涂層厚度分析，除生產(chǎn)外，如五金行業(yè)； 電子行業(yè)也經(jīng)常使用XRF方法進(jìn)行涂層厚度分析，如PCB或MLCC等電子零件行業(yè)或半導(dǎo)體加工行業(yè)。

通過分析XRF的檢測(cè)原理和設(shè)備特點(diǎn),使用便攜式XRF對(duì)常見汽車金屬鍍層Zr鈍化膜厚度進(jìn)行測(cè)試的結(jié)果表明,XRF對(duì)汽車金屬鍍層厚度檢測(cè)具有良好的準(zhǔn)確性和穩(wěn)定性.結(jié)合當(dāng)前汽車企業(yè)現(xiàn)狀,使用便攜式XRF作為鍍層測(cè)厚抽檢或全檢的適用性,結(jié)果表明XRF鍍層測(cè)厚具有低成本,高效率等優(yōu)點(diǎn),可以有效地應(yīng)用于汽車企業(yè)的鍍層分析,使鍍層質(zhì)量得到保證

EDX8000B鍍層厚度測(cè)試儀特點(diǎn)

1. 標(biāo)配FP無標(biāo)樣分析軟件，操作性簡(jiǎn)便。

2. 厚度測(cè)量極限:分辨率0.001um。

3. 可測(cè)試項(xiàng)目:單層膜厚、雙層膜厚、三層膜厚、化學(xué)鎳膜厚、 鉛合金膜厚及組成、壓鑄鋅上鍍銅、 二層同時(shí)測(cè)定、元素光譜分析。

4. 微聚焦X線管，50KV管電壓

5. 采用數(shù)字多道分析器DPP技術(shù)，可快速處理能譜分析，可執(zhí)行測(cè)定物之能譜分析表示，操作簡(jiǎn)單。

6. 濾光片:采用Co、Ni金屬及數(shù)字式濾波器，可單一或同時(shí)使用。

7. 準(zhǔn)直器：采用7種孔徑一體式之Collimator(可設(shè)定任意切換方式)。

我們的核心技術(shù)包括

自動(dòng)基材修正測(cè)量功能：基材修正，已知樣品修正

綜合應(yīng)用范圍廣闊：鍍層分析   定性分析   定量分析   鍍液分析

鍍層分析：可分析三層厚度,FP分析軟件,真正做到無厚度標(biāo)準(zhǔn)片亦能進(jìn)行準(zhǔn)確測(cè)量(需要配合純材料),為您節(jié)省購(gòu)買標(biāo)準(zhǔn)片的成本。*超越其他品牌的FP軟件。

鍍液分析：可分析鍍液的主成份濃度(如鍍鎳藥水的鎳離子濃度,鍍銅藥水的銅離子濃度等),簡(jiǎn)單的核對(duì)方式,無需購(gòu)買標(biāo)準(zhǔn)藥液。

定性定量分析：光譜表示，光譜比較，可定性分析30多種金屬元素；并可合金成份分析，可定量分析成分含量。

光譜對(duì)比功能：可將樣品的光譜和標(biāo)準(zhǔn)件的光譜進(jìn)行對(duì)比,可確定樣品與標(biāo)準(zhǔn)件的差別,從而控制來料的純度。

統(tǒng)計(jì)功能：x光譜管理圖，自動(dòng)算平均厚度功能，能夠?qū)y(cè)量結(jié)果進(jìn)行系統(tǒng)分析統(tǒng)計(jì),方便有效的控制品質(zhì)。